因?yàn)?strong>大理石平臺(tái)檢測法簡單、經(jīng)濟(jì)、能保證一定的測量精度，能測量一些通用量儀難以測量的工件，因而在大理石平臺(tái)檢測方面得到了廣泛的應(yīng)用。
大理石平臺(tái)檢測法是以大理石平板為工作臺(tái)，在大理石工作臺(tái)上按裝工件、小方鐵、方箱、圓柱角尺等精密量具、表架及其他輔助工具并對(duì)被測件進(jìn)行測量；充分利用圓柱、鋼球半徑在各個(gè)方向相等，且接觸點(diǎn)處的半徑和接觸面垂直的特點(diǎn)，將圓柱、鋼球靠在被測面上后可以達(dá)到改變測量方箱的目的；充分利用平板作為基準(zhǔn)平面的特點(diǎn)，從任何位置測量出被測件各個(gè)不同點(diǎn)、線、面對(duì)同一平面的高度值。
　　大理石平臺(tái)檢測法使用簡單，與精密測量儀器相比，大理石平臺(tái)易制造、成本低、維護(hù)、檢修比較方便；采用標(biāo)準(zhǔn)件（量塊等）進(jìn)行比較測量，測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，能保證一定的測量精度。該測量精度取決于大理石平臺(tái)及其他測量器具、工具的精度和選用的測量方法。一般情況下光隙法比指示器法精度高，移動(dòng)方便、靈活，能夠進(jìn)行多種測量。不僅限于測量空間幾何量，還可以用光隙法和著色法檢測工件的平直度。